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NANO FINE TECH 채용 / 분석장비 (SEM, FIB) 기술영업 채용공고(정규직)(~7.17) 2010.07.09해당카페글 미리보기
NANO FINE TECH 채용 / 분석장비 (SEM, FIB) 기술영업 채용공고(정규직)(~7.17) 학력 : 대졸 경력 : 경력3년↑ 연봉 : 회사내규에 따름 고용형태 : 정규직 접수기간 : 2010년 07월 09일 (금요일) ~ 2010년 07월 17일 (토요일) 나노화인테크(Nano Fine Tech...
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삼성전자 채용 / [종합기술원] 분석기술 R&D 분야 경력사원 (~06/10) 2013.05.30해당카페글 미리보기
Atom Probe Tomography를 이용한 재료/소자 성분분석 (APM) - Electrical/Optical소자 및 재료의 3차원 element mapping 분석 - FIB를 이용한 유/무기 시편 제작 기술 - TEM 및 SIMS 경험자 우대 Defect/ charge transport 분석 (DLTS / Photoconductance...
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나모텍 채용 정보ㅣ나모텍 - 전자현미경 분석장비 엔지니어 모집 2012.10.18해당카페글 미리보기
엔지니어 전공 : 전자 전기 물리 신소재 전공 자격 : 4년제 대학졸업자 (또는 졸업예정자) 경력사원의 경우 전자현미경 SEM, FIB, TEM 경험자. 계측기 경험자 업무내용 : 분석장비 설치, 고객 대응, 현장 기술 응용 지원, A/S 공통자격 : 병역필 또는...
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[서울대학교 신소재공동연구소] 분석센터장 채용 공고 (~1/16) 2008.12.19해당카페글 미리보기
공학) - 재료 분석장비 사용 및 유지/관리 경험 5년 이상인 자 (재료 분석장비; TEM, SEM, XRD, Auger, XPS, FIB, EBSD, 등) - 분석실 (분석센터) 관리 유경험자 - 공무원 임용에 결격 사유가 없는 자 3. 담당업무 : - 서울대학교 신소재공동연구소 분석...
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나노소자 신뢰성인증 및 분석지원 사업 지원대상 모집 공고 // 경기 // 나노소자 신뢰성인증 및 분석지원 사업 지원대상 모집 공고 2018.03.06해당카페글 미리보기
2018. 02. 01 ~ 2018. 12. 31 ㅇ 지원분야 : 나노소자 시험분석 및 신뢰성인증에 필요한 전 분야 - 물성구조분석 ㆍ 전자 현미경 분석 : FE-SEM, FIB, TEM(STEM), CL, EDS, EELS, EBSD, EPMA, RAMAN ㆍ X-ray/표면 분석 : XRD, XRF, SAXS, AFM, AES(Auger...
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Re: 2015년 발견된 telocyte, 근막 재생 세포 -> somato-visceral reflex의 최신 논문 이해!! 2026.04.21해당카페글 미리보기
결합해 분석한 결과, 내장과 체표 사이에 뚜렷한 염증 매핑 관계가 존재한다는 것을 밝힌 2025년 연구 텔로사이트(Telocytes, TCs)의 염증 역할에 대한 최신 연구 동향. 1. 기본 역할: 염증 조절자 (Immune Modulator & Supervisor) 텔로사이트는 단순한...
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6월 취업 현황 2025.06.05해당카페글 미리보기
전형 진행 중] [탈락] ASML CSE SK하이닉스 양산기술 - 이천 삼성전자 메모리사업부 반도체 공정기술 한화 에어로스페이스 PGM사업부 생산관리 QRT 불량분석 (FIB) 한국콜마 품질관리 동우화인켐 반도체 케미칼 공정개발 기아 생산운영 및 공정기술 TEL PE
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5월 취업 현황 2025.05.02해당카페글 미리보기
Bump 엔지니어 / 인적성검사 4.09 [탈락] ASML CSE / 서류 탈락 SK하이닉스 양산기술 - 청주 / 서류 탈락 QRT 종합분석 사업본부 FIB / 서류 탈락 매그나칩 장비기술 엔지니어 / 서류 탈락 삼성전자 반도체연구소 설비기술 / GSAT 탈락 스크린에스피이...
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5월 취업 현황 2025.05.07해당카페글 미리보기
완료] 온투이노베이션코리아 - FSE (05.07) 칼자이스 - FSE (04.30) [지원 예정] [전형 진행 중] [탈락] 하이닉스 - 기반기술(청주) ASML - CSE 동진쎄미켐 - 장비관리 한화시스템 - HW 큐알티 - 종합분석 사업본부 FIB직무 솔리드뷰 - 소자공정팀 TEL -FSE
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충북, AIoT 융합부품 성능검증시스템 고도화사업 선정! 알아보기 2026.03.31해당카페글 미리보기
빔 (FIB: Focused Ion Beam) - TEM Cell (전자파 간섭 테스트) - EMI/EMC (전자파 적합성) 테스트 - 목적: 이종 소자 간 전기적 간섭, 신호 무결성, 전력 안정성 확인 - **복합 환경 통합 검증** - 열 + 습도 + 진동 + 전자파를 동시에 적용하는 **멀티...